Los días 14 y 15 de junio tendrá lugar en Turín (Italia) un seminario sobre la metrología para la nanotecnología.

El acto estará orientado hacia la aplicación, e incorporará experiencias y necesidades industriales reales. Éste reunirá a usuarios y expertos industriales de la comunidad de metrología de Italia, así como a expertos internacionales para debatir las necesidades de la nanometría y los avances más recientes, especialmente por lo que se refiere a técnicas y métodos de medición, instrumentación y estándares.

Las sesiones temáticas abordarán:
- nanofabricación, técnicas descendentes, nanoelectrónica y dispositivos cuánticos;
- superficies, capas y metrología a escala atómica;
- materiales nanoestructurados, nanocompuestos, análisis de partículas;
- técnicas interdisciplinarias.

Para obtener más información, visite:
http://www.nanotec.it/

Observaciones: Una convocatoria de posters estará abierta hasta el día 30 de abril de 2007